紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR 硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應力評估很難實現，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

應力雙折射測量系統WPA-200-MT是Z業用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片需要高解析度，因此需要減少雙折射的影響，了解鏡片的雙折射的大小，是鏡片生產過程中不可缺少的，WPA-200-MT正符合這樣的需求，并能高速完成各項測量。

應力雙折射測量系統WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術開發的產品，*的測量技術，高速而又精q的測量能力使其成為不可多得的光學測量產品。 該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布?？蓽y數千nm高相位差分布的萬用機器，Z適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。

應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術開發的產品，*的測量技術使其成為*的光學測量產品。該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的萬能機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。